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产品名称：Thick680镀层测厚仪

产品型号：X荧光测厚仪

更新时间：2023-12-02

产品特点：Thick680镀层测厚仪(X荧光测厚仪)
是根据多年的贵金属检测技术和经验，Thick 680镀层测厚仪以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要，人性化的设计，Thick 680镀层测厚仪使测试工作更加轻松完成

X荧光测厚仪Thick680镀层测厚仪的详细资料：

Thick680镀层测厚仪（X荧光测厚仪）

Thick680镀层测厚仪是根据多年的贵金属检测技术和经验，Thick 680镀层测厚仪以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要，人性化的设计，Thick 680镀层测厚仪使测试工作更加轻松完成

Thick 680镀层测厚仪性能特点

专业贵金属检测
内置信噪比增强器，可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
智能贵金属软件，与仪器相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
多变量非线性回收程序
Thick 680镀层测厚仪技术指标
X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
X射线管：管电压50KV，管电流1mA
可测元素：Ti～U
检测器：正比计数管
样品观察：CCD摄像头
测定软件：薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm
Thick 680镀层测厚仪标准配置
X射线管，正比记数盒，高清摄像头，高度激光，信号检测电子电路。
Thick 680镀层测厚仪应用领域
大型线路板，大型板材，镀层厚度测试，快速测定：660mm纵深；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测；主要用于贵金属加工和首饰加工行业

X荧光测厚仪EDX680技术指标
元素分析范围：从钾（K）到铀（U）。
测量对象：固体、液体、粉末
分析检出限可达：1ppm。
分析含量一般为：1ppm到99.9％。
多次测量重复性可达：0.1％。
长期工作稳定性为：0.1％。

EDX680镀层测厚仪标准配置
单样品腔。
激光定位装置。
正比计数盒探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。

硬件
主机壹台，含下列主要部件：
（1） X光管（2）正比计数器
（3）放大电路（4）高清晰摄像头
（5）高压系统（6）单样品腔
软件
X荧光光谱仪厚度分析软件V1.0；计算机、打印机各一台
计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）
资料
仪器使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。
标准附件准直孔：Ф1.0mm

EDX680镀层测厚仪工作环境要求

环境温度要求：15℃-30℃
环境相对湿度：<70%
工作电源：交流220±5V（建议配置交流净化稳压电源）
周围不能有强电磁干扰。
EDX680镀层测厚仪技术指标
分析元素范围：K-U
测量精度：0.1μm
高压：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
测量时间：60s-300s
计数率：1300-8000cps

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